IATF16949五大手​册​​培训
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质量管理专家 金舟军
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IATF16949五大手册培训
课程大纲 --本大纲为简版课程大纲,需要更详细课程大纲请索取
一.培训对象:项目管理人员、质量管理人员、检验人员、计量人员及工程技术人员。
二.培训目的:
1.掌握过程能力指数Cpk、过程性能指数Ppk和设备能力指数Cmk, 掌握Xbar-R控制图、单值和移动极差图和预控图。
2. 熟练运用PFMEA分析和评价本岗位或本工序潜在失效模式及后果分析,并能制定相应错误预防措施,以使所有过程的作业指导书源于该过程的PFMEA。;
3. 了解测量系统的测重复性、再现性、偏倚、线性、稳定性等五性,掌握minitab计算GRR并且能够解释结果。
4. 掌握APQP五个阶段输入输出要求和CP的方法,能应用APQP到制造责任工厂的项目开发工作中。
5. 掌握PPAP提交的要求。
三.培训大纲
一)SPC手册
1.统计过程的控制概述
产品三次设计
产品特性目标值与公差
质量特性的期望值
过程控制系统
变差的普通及特殊原因、
2.产品变差
直方图描述产品特性分布
基于分布分析原因
直方图MINITAB操作
3.正态分布总体参数估计
正态分布总体参数点估计
均值的无偏估计
总体方差的无偏估计
标准差的无偏估计
对估计量的评价
用Rbar方法估计
4.中心极限定理
样本均值的抽样变差
抽样分布--中心极限定理
总体为正态分布 
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二)MSA手册
1.测量系统基础
测量定义
测量应用
量具&测量设备
测量系统
测量结果-数据 
计量型与计数型测量系统
讨论题-一个测量系统包括的范围
2.测量系统基本特征
分辨力
灵敏度
分辨力接受准则
读数原则
测量值科学记数法 
讨论题-不对称公差分辨力接受准则
3.测量系统溯源
测量过程的目标-真值
基准值来源
溯源
校准&校准周期
讨论题-一个测量系统校准周期确定考虑的因素
4.测量过程变差
测量过程变差-S.W.I.P.E模型 
测量系统数据质量
5.测量系统变差模型
普通的原因-特殊原因
测量系统的变差类型
准确度-偏倚 
精确度-方差 
讨论题-测量系统普通的原因导致什么测量变差
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三)FMEA手册
1. 产品制造和装配的控制
产品设计和开发VS产品制造和装配
过程方法
过程的要素及特点
过程的监视测量
过程特性&产品特性
产品特性-过程特性因果矩阵
关键产品特性KPC-关键过程特性KCC
案例演练-完成你所熟悉过程的产品特性-过程特性因果矩阵
2.过程控制
探测控制措施
产品检验
预防控制措施
过程控制系统
案例讨论-产品设计和开发与过程设计和开发的主要区别是什么 
3. FMEA简介
PFMEA目的 
PFMEA思维过程系统化 规范化 文件化 
动态的PFMEA
案例讨论- PFMEA是怎样防止很多召回事件的发生
4设计FMEA步骤一:规划和准备 
5. DFMEA步骤二:结构分析…
6.设计FMEA步骤三:功能分析 
7.设计FMEA步骤四:失效分析 
8.设计FMEA步骤五:风险分析
9.设计FMEA步骤六:优化 
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四)APQP&PPAP手册
1.项目管理
项目管理简介
项目管理与APQP的关系
2.APQP产品质量先期策划简介
产品质量策划定义
APQP的目标
APQP之益处
APQP手册的目的
3.产品质量策划原理与工具
以顾客为关注焦点
质量功能展开QFD
基准确定
过程方法
过程开发&过程控制
特性矩阵图
关键过程特性&关键产品特性
过程流程图
概念设计&产品设计
预防缺陷
制造过程防错
设计防错系统
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